| 能力 | 能解决 | 不能解决 | 破坏性 | 起步成本 |
|---|---|---|---|---|
| 编程器 / JTAG | 读 IDCODE、边界扫描 → 型号核对、器件能否识别 | 不能验证功能完好;不能识破改标 | 无损 | 2~5 千 |
| X-Ray | BGA 焊球、掉点、虚焊、内部结构、die 尺寸比对 | 看不出打磨改标(改的是外壳) | 无损 | 8~30 万 前期可外包 |
| 开盖 Decap | die 上的原厂 mark → 真假终极判定 | 破坏性,开一颗少一颗 | 破坏性 | 2~30 万 前期可外包 |
EPM570T100 TQFP100)
直接配测试座随时读;大 BGA FPGA 只能植球上测试板,成本高、不适合逐颗测。显微镜(含侧光)、编程器、烘烤柜、真空包装机、防静电台、氮气柜(可选)。
这一步就能支撑 B/C 档的判定,不用等重设备。目标是能独立完成
"看丝印 → 读后缀 → 判货况 → 出报价"。
X-Ray 与开盖全部外包。目的不是省钱,而是:
① 积累自己的检测报告模板与判读经验;② 摸清不同货况在 X-Ray / 开盖下的真实表现;
③ 用第三方报告给客户背书(比自出报告更可信)。
外包渠道见 外包检测机构清单。
这是三项里使用频率最高、最值得自建的一项。
X-Ray 无损、可全检、速度快,能直接提升收货判档效率。
先有量再上设备:外包一次 200~500 元,一年做 400 次才 20 万。
开盖是破坏性抽检(通常 3~5%),使用频率远低于 X-Ray。
务必走激光 / 等离子路线,不要走化学(合规门槛极高,见第五节)。
| 用途 | 推荐型号 | 参考价 | 说明 |
|---|---|---|---|
| Xilinx JTAG(推荐) | Digilent HS2 / HS3 | 800~2000 | Xilinx 官方推荐的第三方替代 |
| Xilinx JTAG(原装) | Platform Cable USB II | 1500~3000 | 兼容性最好 |
| Altera JTAG(原装) | USB-Blaster II | 1500~3000 | Altera/Intel 器件必备 |
| 克隆版(起步够用) | Platform Cable USB / USB-Blaster 克隆 | 50~200 | 便宜,稳定性一般,建议各备 2 个 |
| 小封装 CPLD 编程 | TL866II Plus | ~300 | 支持 TQFP/QFN 小封装,不支持大 BGA |
| 专业通用编程器 | 西尔特 SuperPro 6100 / 7500、河洛 ALL-100/ALL-11 | 数千~十几万 | 量产级,起步期不必上 |
| 关键参数 | 要求 | 说明 |
|---|---|---|
| 焦点尺寸 | 微焦点(≤ 10 μm) | 决定能否看清芯片内部 |
| 分辨率 | ≤ 5~10 μm | 看焊球、打线、die 尺寸 |
| 管电压 | 90~130 kV | 穿透塑封料 |
| 成像 | 2D 即可 | 3D CT 对回收业务是浪费 |
| 类型 | 参考价 | 回收商是否需要 |
|---|---|---|
| 2D 微焦点 X-Ray(国产) | 8~30 万 | ✅ 够用,推荐 |
| 2D 微焦点(进口) | 15~50 万 | 预算充足可选 |
| 二手微焦点(进口) | 8~25 万 | 需懂行验机 |
| 3D CT X-Ray | 50~200 万+ | ❌ 不需要 |
| 方式 | 设备成本 | 安全性 | 合规门槛 | 建议 |
|---|---|---|---|---|
| 化学(发烟硝酸) | 2~8 万 | 危险 | 极高 | 不推荐,见第五节 |
| 激光 | 10~30 万 | 较安全 | 中 | 可选 |
| 等离子 | 15~40 万 | 安全 | 中 | 可选 |
| 激光 + 等离子 | ~10 万起 | 安全 | 中 | 推荐:全程不用一滴酸 |
激光+等离子组合的典型工作流:视觉定位 → 激光减薄(留薄薄一层保护晶圆)→ 等离子一键自动开封, 一般 30~60 分钟完成,适用于金/银/铜/铝各类打线,对 SiP、High-TG、GaAs 等难开封装也有效。
| 设备 | 用途 | 参考价 |
|---|---|---|
| 显微镜(含侧光) | 丝印、打磨痕迹、氧化检验 | 2000~2 万 |
| 烘烤柜 | 125℃/24h 除湿,防回流焊"爆米花" | 5000~2 万 |
| 真空包装机 + 干燥剂 + 湿度卡 | 提升售价档位 | 3000~1.5 万 |
| 防静电台垫 + 手环 + 离子风机 | 防 ESD 损伤 | 1000~5000 |
| 氮气柜 | 长期存储防氧化 | 1~3 万 |
| BGA 返修台(可选) | 植球 / reball | 1~5 万 |
| 方案 | 包含 | 投入 | 能达到的判定能力 |
|---|---|---|---|
| 精简档 | 显微镜 + 编程器 + 烘烤柜 + 真空包装 + 防静电 | 0.6~1 万 | C 档(能认料、能读型号、能判外观), X-Ray/开盖靠外包 |
| 标准档 | 精简档 + 微焦点 X-Ray | 10~17 万 | B 档(可判焊球/掉点/内部结构), 开盖仍外包 |
| 完整档 | 标准档 + 激光/等离子开盖机 | 20~45 万 | A 档(可自主做真假终极判定,出完整检测报告) |
做了检测一定要出报告。同一批 A 档料,有报告比没报告能多卖 10~20%, 而单份报告成本只有几百元。
| 报告要素 | 要点 |
|---|---|
| 送检信息 | 委托方、送检方、送检日期、样品编号 |
| 样品描述 | 型号全后缀、数量、封装、DC、来源、批次一致性 |
| 外观检查 | 丝印清晰度、有无打磨痕迹、引脚/焊球氧化、照片 |
| X-Ray 检查 | 焊球完整性、有无掉点/虚焊、内部结构、die 尺寸比对、X-Ray 图 |
| 开盖检查 | die 尺寸、原厂 mark、版图特征、★ die mark 特写图 |
| 电测 / 编程器 | IDCODE 读取结果、边界扫描是否通过 |
| 综合结论 | 货况判定:原装原包 / 拆机可测 / 未测 / 报废 |
| 签章 | 检测员、审核、日期、机构章 |
| 免责声明 | 检测为抽样,结论仅对送检样品负责 |
可直接使用的空白模板:检测报告模板(可打印 / 可填写)
| # | 任务 | 周期 | 预算 | 验收 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | 配置显微镜(含侧光)+ 防静电台 | 1 周 | 3~5000 | 能看清丝印、判断打磨痕迹 |
| 2 | 采购 Xilinx + Altera 原装 JTAG 各一 | 1 周 | 3000~5000 | 能读出器件 IDCODE |
| 3 | 配烘烤柜 + 真空包装机 + 干燥剂/湿度卡 | 2 周 | 1~3 万 | 拆机料能走完除湿包装流程 |
| 4 | 建立《检测报告》模板并试填 3 份 | 1 周 | 0 | 报告能直接发给客户 |
| 5 | 对接 2 家外包检测机构(X-Ray / 开盖各一) | 2 周 | 按次 | 完成首批 10 个样品送检 |
| 6 | 摸清 X-Ray / 开盖在真实货况下的判读标准 | 持续 | — | 能写出判读结论,不依赖机构 |
| 7 | 核算外包成本,判断何时该自建 X-Ray | 第 4 周 | — | 有明确的设备采购阈值 |